Trapping levels in high resitivity silicon induced by neutron irradiation Vezi publicația: Romanian Reports in Physics Anul publicaţiei: 1996Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 48-3-4; anul 1996 Paginaţia: 219-229 Navigare în nr. revistă: |< < 7 / 15 > >| Realizatori:  PINTILIE, Lucian (autor), PINTILIE, Ioan (autor), PETRE, D. (autor), BOTILA, Z. (autor) Descriptori:  fizică, fizică atomică, Si