An XPS study of SiGe alloys ion beam oxidation Vezi publicația: Revue Roumaine de Chimie Anul publicaţiei: 1998Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 43-10; anul 1998 Paginaţia: 913-916 Navigare în nr. revistă: |< < 4 / 14 > >| Realizatori:  OSICEANU, Petre (autor) Descriptori:  chimie