Metodă de identificare a impurităţilor în plachete de siliciu prin atomi de recul în fascicul de 63Cu Vezi publicația: Studii şi Cercetări de Fizică Anul publicaţiei: 1985Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 37-9; anul 1985 Paginaţia: 772-779 Navigare în nr. revistă: |< < 2 / 11 > >| Realizatori:  PETRAȘCU, M. (autor), BERCEANU, I. (autor), BRÎNDUȘ, I. (autor), BUȚĂ, A. (autor), DEMIAN, A. (autor), GRAMA, C. (autor), LAZĂR, I. (autor), MIHAI, I. (autor), PETROVICI, M. (autor), SIMION, V. (autor), MIHĂILĂ, Mihai (autor), GHIȚĂ, I. (autor) Descriptori:  fizică, Cu, Si