An investigation on 31P' related defects in implanted SiO2/Si by EPR and optical spectroscopy Vezi publicația: Romanian Reports in Physics Anul publicaţiei: 1997Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 49-5-7; anul 1997 Paginaţia: 523-530 Navigare în nr. revistă: |< < 9 / 25 > >| Realizatori:  BERCU, M. (autor), GRECU, V. (autor), GHIKA, I. (autor), BERCU, C. (autor), RADU, C. (autor), GOLIAT, S. (autor) Descriptori:  fizică