Measurement of the nonlinear refractive index of some silicon nanostructures using reflection intensity scan method Vezi publicația: Romanian Reports in Physics Anul publicaţiei: 2013Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 65-3; anul 2013 Paginaţia: 954-965 Navigare în nr. revistă: |< < 31 / 44 > >| Realizatori:  BAZARU, RUJOIU (autor), VLAD, Valentin (autor), PETRIȘ, A. (autor) Descriptori:  fizică