On the ellipsometric studies applied to TiO2 heat-treated thin films Vezi publicația: Romanian Journal of Physics Anul publicaţiei: 2001Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 46-3-4; anul 2001 Paginaţia: 205-211 Navigare în nr. revistă: |< < 13 / 17 > >| Realizatori:  MARDARE, Diana (autor) Descriptori:  chimie