Microstructural study of pure and Te-doped GaSb wafers and their electrical characterization Vezi publicația: Romanian Journal of Physics Anul publicaţiei: 2004Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 49-1-2; anul 2004 Paginaţia: 47-51 Navigare în nr. revistă: |< < 6 / 18 > >| Realizatori:  SAKELLARI, D. (autor), AMARIEI, A. (autor), VALASSIADES, O. (autor), POLYCHRONIADIS, E.K. (autor) Descriptori:  fizică, Ga, stibiu, Te