Dielectric characteristics and reliability tests for thin Au-Ta2O5-SiO2-Si structures Vezi publicația: Romanian Journal of Physics Anul publicaţiei: 2005Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 50-9-10; anul 2005 Paginaţia: 1009-1017 Navigare în nr. revistă: |< < 13 / 39 > >| Realizatori:  PECOVSKA-GJOGIEVICH, M. (autor), SPASOV, D. (autor), NOVKOVSKI, N. (autor), ATASNASSOVA, E. (autor) Descriptori:  fizică