Ellipsometric and reflectance measurements for the determination of optical properties and thickness of a light-absarbing thin film Vezi publicația: Revue Roumaine de Chimie Anul publicaţiei: 1972Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 17-1-2; anul 1972 Paginaţia: 405-410 Navigare în nr. revistă: |< < 49 / 50 > >| Realizatori:  WOON, kie (autor) Descriptori:  chimie