Metoda ţi aparatura pentru determinarea conductivităţii termice a semiconductorilor în intervalul de temperatură de la 100 la 400 oK Vezi publicația: Studii şi Cercetări de Fizică Anul publicaţiei: 1968Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 20-2; anul 1968 Paginaţia: 183-188 Navigare în nr. revistă: |< < 7 / 7 > >| Realizatori:  LUSCAL, N. (autor) Descriptori:  fizică