Identification by surface Raman scattering of disorder states on conducting polymers and porous silicon thin films Vezi publicația: Romanian Reports in Physics Anul publicaţiei: 1999Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 51-7-10; anul 1999 Paginaţia: 823-841 Navigare în nr. revistă: |< < 31 / 50 > >| Realizatori:  BALTOG, I. (autor), BAIBARAC, M. (autor), LENGYEL, E. (autor), MIHUȚ, L. (autor), VELULA, T. (autor) Descriptori:  fizică