Structural investigations in thermally treated Uranium dioxide thin films deposited by ion beam sputtering technique Vezi publicația: Revue Roumaine de Physique Anul publicaţiei: 1973Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 18-1; anul 1973 Paginaţia: .3-7 Navigare în nr. revistă: |< < 1 / 15 > >| Realizatori:  VASILIU, F. (autor), GLODEANU, F. (autor) Descriptori:  fizică