A direct correlation between the low-frequency noise and the crystallograohic deffects in silicon bipolar transisistors Vezi publicația: Revue Roumaine de Physique Anul publicaţiei: 1981Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 26-8-9; anul 1981 Paginaţia: 975-977 Navigare în nr. revistă: |< < 17 / 28 > >| Realizatori:  MIHĂILĂ, Mihai (autor) Descriptori:  fizică