An elemental analysis test of the indigeneous semiconductor - Si by neutron capture reactions Vezi publicația: Revue Roumaine de Physique Anul publicaţiei: 1986Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 31-6; anul 1986 Paginaţia: 611-615 Navigare în nr. revistă: |< < 9 / 14 > >| Realizatori:  MUNTEAN, D. (autor) Descriptori:  fizică, Si