Căutare Avansată

Infrared and X-ray photoelectron spectroscopy in surface characterization of polydimethylsiloxane thin films generated on metallic substrates in multipoints to plane corona discharges

• Vezi publicația: Romanian Journal of Physics
• Anul publicaţiei: 2016
• Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 61-3-4; anul 2016
• Paginaţia: 548-656
• Navigare în nr. revistă:  |<  <  24 / 39   >  >|

---

• Realizatori:  GROZA, A. (autor), SURMEIAN, A. (autor), DIPLAȘU, C. (autor), NEGRILĂ, C. (autor), MIHALCEA, Bogdan (autor), GANCIU, M. (autor)
• Descriptori:  fizică