Infrared and X-ray photoelectron spectroscopy in surface characterization of polydimethylsiloxane thin films generated on metallic substrates in multipoints to plane corona discharges Vezi publicația: Romanian Journal of Physics Anul publicaţiei: 2016Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 61-3-4; anul 2016 Paginaţia: 548-656 Navigare în nr. revistă: |< < 24 / 39 > >| Realizatori:  GROZA, A. (autor), SURMEIAN, A. (autor), DIPLAȘU, C. (autor), NEGRILĂ, C. (autor), MIHALCEA, Bogdan (autor), GANCIU, M. (autor) Descriptori:  fizică