Considerationd leading to the appearance of the new modification ) -Cr) in thin vacuum evaporated chromium films. I. Trickness dependence. Analysis of electron diffraction data Vezi publicația: Revue Roumaine de Physique Anul publicaţiei: 1973Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 18-2; anul 1973 Paginaţia: 211-217 Navigare în nr. revistă: |< < 8 / 15 > >| Realizatori:  BÎRJEGA, M. (autor), GLODEANU, F. (autor), POPESCU-POGRION, N. (autor), TEODORESCU, I. (autor), ȚOPA, V. (autor) Descriptori:  fizică