Some results of X-ray topography method in the study of semiconductor devices Vezi publicația: Revue Roumaine de Physique Anul publicaţiei: 1975Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 20-9; anul 1975 Paginaţia: 979-981 Navigare în nr. revistă: |< < 10 / 14 > >| Realizatori:  BIRĂU, Octavian (autor), BOTEA, Magda (autor), STAFIESCU, Doina (autor), GARTNER, Măriuca (autor) Descriptori:  raze X, fizică