| |
articol de periodic |
1973 |
Revue Roumaine de Physique, 18-5 |
STAFIESCU, Doina (autor)
|
Preliminary considerations in silicon defects study |
|
665-666 |
|
| |
articol de periodic |
1975 |
Revue Roumaine de Physique, 20-9 |
BIRĂU, Octavian (autor)
,
BOTEA, Magda (autor)
,
STAFIESCU, Doina (autor)
,
GARTNER, Măriuca (autor)
|
Some results of X-ray topography method in the study of semiconductor devices |
|
979-981 |
|
| |
articol de periodic |
1973 |
Studii și Cercetări de Fizică, 25-8 |
STAFIESCU, Doina (autor)
|
Studiul defectelor siliciului monocristalin prin transmisie în infraroșu |
|
991-999 |
|